產(chan) 品分類
品牌 | 創銳高 | 產地類別 | 國產 |
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應用領域 | 電氣 |
CRG-SAE電子綜合實訓設備實驗教學係統裝置本綜合實驗係統能夠完成“電路基礎"、“模擬電子技術"、“數字電子技術"、“ISP在係統編程EDA實驗"、“VHDL設計"、“電子係統綜合設計"等課程的實驗。在實驗方式上采用全新理念,保留了經典的傳(chuan) 統基礎功能模塊驗證性實驗,增加了對中大規模複雜係統的設計、分析和管理實驗,為(wei) 學生提供了二次開發的良好環境,加強了學生對係統設計概念的培養(yang) 和實踐,以適應電子係統日趨數字化、複雜化和大規模集成化發展的需要,真正做到學用結合,為(wei) 創新性人才的培養(yang) 打下良好基礎。
一、係統特點:
CRG-SAE電子綜合實訓設備實驗教學係統裝置該實驗裝置具有安全、穩定、可讀、可調整、直觀、靈活和新型等特點,操作簡單方便,裝置運行可靠。具有很強的二次開發功能。
1、安全性
人員安全的保護:不論實驗裝置在正常工作或故障狀態下,不會(hui) 危及操作人員的人身安全。
對誤操作的保護:不會(hui) 因為(wei) 誤操作而導致實驗裝置損壞。
電源的過流保護:因短路等故障而過流時,可自動切斷實驗裝置電源。
電源的電壓保護:電源電壓過高或欠壓時,將自動切斷實驗裝置電源。
2、直觀性
實驗裝置功能模塊的主要電氣原理或特征將在麵板或電路卡上指示,實驗裝置各功能引腳的符號標注在麵板上,反麵由元器件和透明有機玻璃防護罩組成,實驗項目根據需要可以靈活配置和增加設計。
3、靈活性
實驗裝置采用主板和各模塊分離的設計,可編程器件焊接在獨立模塊上。通過選擇模塊可以選擇不同廠家、不同型號、不同規模的可編程器件,既可適應不同的教學需要,也使係統的功能和規模擴展變得更為(wei) 方便。
為(wei) 了方便實驗操作,減少對實驗儀(yi) 器儀(yi) 表的依賴,實驗裝置主板上各部分功能模塊(包括一些基本功能模塊和實驗小工具)幾乎都是相互獨立的,可以根據需要選擇模塊進行接線。
實驗裝置提供擴展集成插座、麵包板和部分必須的分立元件等,留有足夠的接線機會(hui) ,也給實驗裝置留有足夠的機動靈活性。
4、新穎性
實驗裝置提供了邏輯可編程實驗平台和模擬可編程實驗平台,其中邏輯可編程實驗平台包括CPLD/FPGA模塊,模擬可編程實驗平台包括ispPAC模塊。不同模塊使用不同的芯片,根據需要可選擇不同功能芯片的模塊插接到實驗主板上。
二、技術指標
(一)數字電路功能單元
1、 4×4矩陣鍵盤:矩陣式結構,組合按鍵。
2、 8位乒乓開關(guan) :開關(guan) 量輸入。
3、 十六進製8421撥碼盤:提供0~9,A~F 十六進製編碼值。
4、 24位開關(guan) 量輸出:發光二極管紅、黃、綠色三組各八隻高亮度發光二極管,含電流驅動。
5、 6位LED顯示:7段數碼管靜態顯示方式6位,動態顯示方式1-6位均可,含電流驅動。
6、 有源晶振:4MHz標準時鍾,通過模塊跳線器選擇,向可編程器件的CLK1提供時鍾。
7、 可編程脈衝(chong) 序列發生器:由555振蕩器構成頻率可調、脈衝(chong) 數可設置的脈衝(chong) 序列發生電路。
8、 單脈衝(chong) 發生器:提供加消抖處理單個(ge) ±脈衝(chong) 輸入。
9、 邏輯筆:可測量邏輯高低電平、高阻和脈衝(chong) 狀態。
10、數字電路模塊IC1擴展卡:
1個(ge) 40芯IC座,1個(ge) 20芯IC座,1個(ge) 14芯IC座
數字電路模塊IC2擴展卡:
1個(ge) 40芯IC座,1個(ge) 20芯IC座,1個(ge) 8芯IC座
(二)模擬電路功能單元
1、模擬電路模塊接入區:可接入各種模擬電路實驗模塊
2、波形發生器單元
輸出波形:方波、三角波、正弦波
幅值:正弦波:0~14V(14V為(wei) 峰-峰值,且正負對稱)
三角波:0~24V(24V為(wei) 峰-峰值,且正負對稱)
方波:0~24V(24V為(wei) 峰-峰值,且正負對稱)
頻率範圍:分四檔2HZ~20HZ、20HZ~200HZ、200HZ~4KHZ、4KHZ~100KHZ
3、直流信號源單元:雙路±5V、±0.5V、兩(liang) 檔連續可調。
4、3位半數字電壓表:測量範圍:-19.99V~+19.99V
(三)EDA實驗功能單元
1由數字電路功能單元、模擬電路功能單元共同組成。
2、可編程器件模塊(根據要求選擇)
(四)擴展實驗模塊區
1、集成電路擴展插座:可插實驗用IC芯片或ispPAC模塊。
2、麵包板單元:主板上由二組中國台灣產(chan) 麵包板組成接插件專(zhuan) 區,方便進行擴展實驗。
三、實驗內(nei) 容:
1、數字部分基本實驗(由二塊IC擴展卡共同完成):
(l)門電路邏輯功能及測試; (2)組合邏輯電路(半/全加器); (3)R-S、D、JK4、觸發器;
(4)三態輸出觸發器、鎖存器; (5)集成計數器及寄存器; (6)時序電路測試及研究;
(7)譯碼器和數據選擇器; (8)波形發生及單穩態觸發器; (9)555時基電路
可選做如下實驗:
(10)CMOS門電路測試; (11)門電路的驅動能力測試; (12)MSI加法器實驗;
(13)寄存器及其應用實驗;(14)順序脈衝(chong) 和脈衝(chong) 分配器電路; (15)多路模擬開關(guan) 及其應用實驗;
(16)四路優(you) 先pan決(jue) 電路實驗;(17)TS、OC門的功能測試及其應用實驗;(18)邏輯筆實驗與(yu) 分析實驗;
(19)競爭(zheng) 冒險實驗; (20)計數器MSI芯片的應用; (21)施密特觸發器及其應用實驗;
(22)數字定時器實驗; (23)電子校音器實驗; (24)TTL不同係列芯片性能和參數的測定實驗;
(25)TTL與(yu) CMOS相互連接實驗; (26)觸發器應用實驗; (27)時序電路應用實驗;
(28)單穩態觸發器及其應用實驗; (29)電壓變換器實驗; (30)示波器多蹤顯示接口實驗
2、模擬部分實驗內(nei) 容(共有七個(ge) 實驗模塊):
A、模擬電路模塊A1:
1、基本單級放大電路; 2、兩(liang) 級放大電路; 3、負反饋放大電路; 4、LC振蕩器及選頻放大器 5、RC正弦波振蕩器; 6、射級跟隨器;
B、模擬電路模塊A2:
1、集成功率放大器; 2、互補對稱功率放大器;
C、模擬電路模塊A3:
1、集成穩壓電路;
D、模擬電路模塊A4:
1、串聯穩壓電路; 2、晶閘管控製
E、模擬電路模塊A5:
1、 場效應管實驗 2、差分電路實驗
F、模擬電路模塊A6:
1、 電壓跟隨器 2、反向比例放大器 3、同相比例放大器 4、反相求和比例放大器
5、雙端輸入求和放大電路 6、積分電路 7、微分電路 8、微積分電路 9、方波發生器
10、占空比可調的矩形波發生器 11、三角波發生電路 12、鋸齒波發生電路 13、低通濾波器
14、高通濾波器 15、帶阻濾波器 16、過零比較器 17、反相滯回比較器 18、同相滯回比較器
19、電流/電壓轉換電路 20、電壓/頻率轉換電路 21、波形變換電路 22、集成電路RC正弦波振蕩
G、模擬電路模塊A7:
1、整流濾波與(yu) 並聯穩壓電路